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EDX-8800H立式X荧光光谱仪供应商-英飞思科学(推荐商

询盘留言|投诉|申领|删除 产品编号:603591565                    更新时间:2025-10-25
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  • 价格说明 : 议定
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材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话,多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄,直径1-5微米,也就是说照射到样品的区域会很小,所以不均匀样品检测会不准确,EDX-8800H立式X荧光光谱仪供应商,当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么?如果是一层高分子,一层无机物,在一层高分子一层无机物,并且每层的厚度一定(比如层高分子都是10微米厚)。这样的可以在一定程度上看成是均匀的,但是用X荧光光谱仪测量还是有问题,因为X荧光透过不同物质有厚(某元素的X荧光透射不出来的厚度,原因是自吸收)的问题。

实验室监测方法

监测方法         来源         类别

原子吸收法GB7475-87水质

mcso-四(对磺基苯)卟啉光度法WS/T126-1999作业场所空气

氢化物发生-原子吸收法WS/T127-1999作业场所空气

原子吸收法GB/T15555.2-95固体废物浸出液

石墨炉原子吸收法GB/T17141-1997土壤

火焰原子吸收法GB/T17140-1997土壤

火焰原子吸收法GB/T15264-94空气质量

原子吸收法CJ/T101-99城市生活垃圾

原子吸收法《固体废弃物试验分析评价手册》中国环境监测总站等译固体废弃物

RoHS进展情况一些大公司已经注意到RoHS并开始采取应对措施,如公司的数码照相机已经在包装盒上声明:该产品采用无铅焊接;采用无铅油墨印刷。2004年也出台了《电子信息产品污染防治管理办法》内容与RoHS类似,并于十月份成立了“电子信息产品污染防治标准工作组”,研究和建立符合我国国情的电子信息产品污染防治标准体系;开展与电子信息产品污染防治有关的标准研究和制修订工作,特别是加快制定产业急需的材料、工艺、名词术语、测试方法和试验方法等基础标准。

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