苏州英飞思(多图)-朝阳CS995型红外碳硫分析仪

原子核外电子按其能量的高低分层分布而形成不同的能级，因此，一个原子核可以具有多种能级状态。能量的能级状态称为基态能级（E0=0），其余能级称为激发态能级，而能的激发态则称为激发态。正常情况下，原子处于基态，核外电子在各自能量的轨道上运动。如果将一定外界能量如光能提供给该基态原子，当外界光能量E恰好等于该基态原子中基态和某一较高能级之间的能级差E时，该原子将吸收这一特征波长的光，外层电子由基态跃迁到相应的激发态，而产生原子吸收光谱。

相邻元素的Kα谱线完全分开， 结构上没有分光系统， Si-PIN半导体传感器安装位置邻近样品， 检测灵敏度高， 所以XRF光谱ROHS分析仪Compassionately00成为了RoHS重金属检测的仪器。

由于Ro HS检测涉及成千上万种产品， 基体材料种类繁杂， 有单一材质， 也有金属合金、复合镀层、陶瓷玻璃以及PE、PVC、ABS等塑料类， 目前国内外在检测方法方面没有形成一致性的结论， 因此可以采用一种或几种分析仪器对其中的有害物质进行测试。其中能量色散X射线荧光光谱仪可直接使用固体标准物质进行校准。

材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，CS995型红外碳硫分析仪，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。

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