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X射线光谱现场分析技术是采用现场X射线光谱仪在采样现场对待测目标体中元素进行快速地定性和定量分析技术， 又称为现场X射线荧光矿石分析仪。 根据现场分析的应用场景与采样方法， X射线光谱现场分析可分为X射线光谱现场原位分析和X射线光谱现场取样分析。 现场原位分析是指将X射线光谱分析仪的探测窗直接置于岩(矿)石露头或土壤或其他待测物料的表面， 在现场原生条件下获取待测目标体中元素种类和元素含量的分析方法; 现场取样分析是指对待测目标体进行样品采集

分辨率：1.2nm @15kv，2.2nm @1kv（非样品台偏压模式） 放大倍数：10X—1000000X，连续可调 加速电压：20v-30kv，连续可调 样品台移动范围：X=Y=120mm，Z=50mm 能谱探测器：SDD硅漂移电制冷探测器 能量分辨率：MnKa优于127eV 元素分析范围：Be4—Cf98。 [1] 主要功能编辑 播报采用ET二次电子探测器、In-Iens二次电子探测器、HDBSD背散射探测器和能谱探测器分别对信号进行检测、放大、成像，用于各种微观形貌及成分分析。

岩石是矿物的集合体，EDX8000BPLUS元素分析光谱仪厂家，是各种地质作用的产物，是构成地壳的物质基础。矿物是在各种地质作用中形成的天然单质或化合物，通常由像钙、镁、钠、铝、钡、铁、锌等多种元素组成。通过仪器测试可以得到所含元素及各个元素的含量。有部分矿石因需要提取的矿物量较低（ppm级---百万分之一，如：5-10ppm金矿），通过简单的测试无法准确判定含量的多少，轻便矿石分析仪也只能做半定量分析。这就需要高精度的分析手段---原子吸收光谱仪。

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