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（这些影响因素在不同情况下将对特征谱线强度的采集产生很大的影响，甚至造成误判）：a)被测样品与标准物质所含元素组成和含量有较大的差异；b)被测样品的表面有镀层或经化学处理；c)测量时间；d)样品的形状；e)样品测量的面积；f)的含量多少；XRF光谱测金仪出来的结果通常需要理解，由于被测的首饰产品不同，使用的仪器不同，ESI，检测人员的素质水平不同，对检测结果的接收范围建议在以下范围内选取。

由于每种原子都有自己的特征谱线，因此可以根据光谱来鉴别物质和确定它的化学组成．这种方法叫做光谱分析．做光谱分析时，可以利用发射光谱，也可以利用吸收光谱．这种方法的优点是非常灵敏而且迅速．某种元素在物质中的含量达10^-10(10的负10次方)克，就可以从光谱中发现它的特征谱线，因而能够把它检查出来．光谱分析在科学技术中有广泛的应用．例如，在检查半导体材料硅和锗是不是达到了高纯度的要求时，就要用到光谱分析．在历，光谱分析还帮助人们发现了许多新元素．

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