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不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量，这一个过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。探测系统测量这些出来的二次X射线的能量及数量。然后仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量——每种元素的发射强度与样品中的元素含量成正比，通过预先设置好的校正曲线计算出来，可显示其含量。特点分析范围：0.3%～99.99%测量时间：自适应测量精度：±0.1%测试环境：常温常态.

X 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面仪器之一。中文名X射线荧光分析仪检出下限Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm样品形状大460×380mm(高150mm)适用对象塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体，在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，EDX-5000测金仪品牌，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出具感度的辐射，EDX-5000测金仪怎么用，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。

XRF：X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线撞击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，大连EDX-5000测金仪，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品。

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