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然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，EDX-5000测金仪报价，据此，EDX-5000测金仪厂家，可以进行元素定量分析。

在可见和近紫外实现这些测量没有任何困难。测量通过个单色仪的光通量，EDX-5000测金仪价格，紧接着测量通过两个单色仪的光通量，以这种方式来确定第二个单色仪的透射率。测量需要知道单色仪的透射率：对于相对测量，EDX-5000测金仪，以各种波长处的相对单位可以测量透射率。真空紫外线的这些测量有相当大的实验困难，因此通常使用辅助单色仪。在各种入射角的情况下分别测量衍射光栅的效率。在许多实验步骤中已成功地避免了校准上的困难。

分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）

样品室气氛大气X射线管靶材Rh管电压50KV管电流1mAX射线照射径1/3/5mm防护

检测器硅SIPIN探测器光学图像观察倍率15倍

X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪）X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪）。

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