苏州英飞思-南平EDX-8000MAXSDD贵金属分析仪

（这些影响因素在不同情况下将对特征谱线强度的采集产生很大的影响，EDX-8000MAXSDD贵金属分析仪，甚至造成误判）：a)被测样品与标准物质所含元素组成和含量有较大的差异；b)被测样品的表面有镀层或经化学处理；c)测量时间；d)样品的形状；e)样品测量的面积；f)的含量多少；XRF光谱测金仪出来的结果通常需要理解，由于被测的首饰产品不同，使用的仪器不同，检测人员的素质水平不同，对检测结果的接收范围建议在以下范围内选取。

一台典型的光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分：1. 入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。2. 准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。3. 色散元件: 通常采用光栅，使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。

使用超大面积25 mm2铍窗SDD检测器(普通Si-pin检测器6mm2)，该款检测器可在相同样品激发条件下获得2-3倍于普通检测器的光谱强度（计数率CPS），从而得到更好的测试稳定性和长期重复性。与传统的Si-pin版本台式仪器相比，EDX8000 Ma谱仪可以全功率运行，因此实现了更为稳定和可靠的测试表现

黄金珠宝首饰检测EDX8000 Max

>仪器参数仪器外观尺寸: 500mm*495mm*390mm样品腔：410mm*330mm*140mm仪器重量: 45 kg

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