河南EDX-8000B型XRF镀层测厚仪-苏州英飞思科学

膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪

Simply The Best

>微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。

>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

>高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的，但在同一介质中声速是一常数。

测厚仪

材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000B镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，EDX-8000B型XRF镀层测厚仪，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。

河南EDX-8000B型XRF镀层测厚仪-苏州英飞思科学由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”选择苏州英飞思科学仪器有限公司，公司位于：苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室，多年来，英飞思科学坚持为客户提供好的服务，联系人：张经理。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。英飞思科学期待成为您的长期合作伙伴！