英飞思科学仪器公司-大庆CS995型红外碳硫分析仪

5 当拆分对象难以进一步拆分且重量≤10mg 时，不必拆分，作为非均质检测单元，直接提交检测。

6 当拆分对象难以进一步拆分且体积≤1.2mm3时，不必拆分，可以整体制样（如：0805类贴片类元件 2.0×1.2×0.5mm 的元件不必拆分）作为非均质检测单元，直接提交检测。

7 表面处理层应尽量与本体分离（如涂层）；对于确实无法分离的（如镀层），可对表面处理层进行初筛(如使用 X 射线荧光光谱仪（XRF）等手段)，筛选合格则不拆分；筛选不合格，可使用非机械方法分离(如使用能溶解表面处理层而不能溶解本体材料的化溶液

学溶解提取)。

8 在满足检测结果有效性的前提下，对于经拆分后样品无法满足检测需求量时，可采取

适类，一同制样，直接提交检测

近几年，一直备受关注的欧盟强制性标准——《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》RoHS 指令，相对于旧版，多将新版欧洲 RoHS 指令称作 RoHS2.0），在的颁布稿中也将邻苯二甲酸

二(2-已)酯(DEHP)、邻苯二甲酸二丁酯（DBP）、邻苯二甲酸丁苄酯（BBP）和(DIBP)，这 4 种物质添加为限制使用物质。这些物质分别以均质材料中 0.1%为允许浓度，于 2019 年 7 月 22 日起实施。该指令实施后，在 EU 上市的所有电气和电子设备（以及监视控制设备除外）及其下游供应商生产的零部件、原材料和包装件等均涉及到 DEHP、DBP、BBP、DIBP 含量的检测。

材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，CS995型红外碳硫分析仪，当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。