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光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收，由发射光谱被减弱的程度，进而求得样品中待测元素的含量。它符合郎珀-比尔定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I为透射光强度，I0为发射光强度，T为透射比，L为光通过原子化器光程由于L是不变值所以A=KC。物理原理任何元素的原子都是由原子核和绕核运动的电子组成的。

射线管发射具有高能量的粒子束照射样品，分析仪， 当其能量大于样品原子中某一轨道电子的结合能时，分析仪哪里有， 便可将该轨道的电子逐出， 形成空穴，分析仪厂商， 即时外层电子跃向空穴， 电子轨道层的能量差将以特征X射线荧光逸出原子，分析仪供应， 其能量差与原子序数相对应， 以此能谱的峰位和净强度进行定性和定量分析。依据RoHS检测中元素的特点以及大量实际检测经验， 能量色散X射线荧光光谱仪因其激发源采用较大功率的Rh靶来产生特征X射线激发样品原子中K层L层谱线， 可降低背景

使用这些标样可以根据的化学含量对测量出的XRF强度进行校准。通过这样的校准，能够以准确度和度确定未知聚合物样品的成分。美国加联提供的标样的元素分布同质性极高，而且，由于标样中的各种元素含量经过精挑细选且不具关联性，因此可以准确确定谱线重叠校正系数。校准标样程序包包含四个多元素聚乙烯标样（每个标样的元素含量和重复项各不相同）和一个空白样。

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