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EDX9000B荧光光谱仪

采用铂-黄坩埚熔融法制样，对铜精铜，硫铁矿，方铅矿样品中主量元素S，Fe，Cu，Pb等进行X射线荧光光谱测定.采用低温预氧化处理，以偏硼酸锂，四硼酸锂混合物作熔剂，化锂作玻璃片脱模剂.结果表明，此法克服了颗粒度效应，避免了铂黄坩埚腐蚀的危险，同时由于它的高度均质化，XRF仪器供应，提高了测量的准确度，测量结果令人满意，淄博XRF仪器，苏州英飞思科学仪器有限公司苏州英飞思科学仪器有限公司

（这些影响因素在不同情况下将对特征谱线强度的采集产生很大的影响，XRF仪器供应商，甚至造成误判）：a)被测样品与标准物质所含元素组成和含量有较大的差异；b)被测样品的表面有镀层或经化学处理；c)测量时间；d)样品的形状；e)样品测量的面积；f)的含量多少；XRF光谱测金仪出来的结果通常需要理解，由于被测的首饰产品不同，使用的仪器不同，检测人员的素质水平不同，对检测结果的接收范围建议在以下范围内选取。

X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。3、当某些元素的电子由高等级向低等级跃迁时释放的能量相近，XRF仪器怎么样，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。4、逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素的含量较高或者能量较高，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。5、在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动补偿。

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