池州EDX-8000B型XRF镀层测厚仪-英飞思科学

膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪

Simply The Best

>微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。

>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

>高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

英飞思XRF镀层测厚仪优势

>微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，EDX-8000B型XRF镀层测厚仪，实现高精度测量。

>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

>高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。

测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。苏州英飞思科学仪器有限公司

池州EDX-8000B型XRF镀层测厚仪-英飞思科学由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”选择苏州英飞思科学仪器有限公司，公司位于：苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室，多年来，英飞思科学坚持为客户提供好的服务，联系人：张经理。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。英飞思科学期待成为您的长期合作伙伴！