CS995型红外碳硫分析仪-英飞思科学仪器公司

电子电气产品中有害物质检测RoHS2.0样品拆分通用要求

General Disassembly Requirements for Testing Hazardous Substances in Electrical and Electronic Products

在电子电气产品有害物质的检测中 ，样品拆分过程对于检测结果具有直接的影响。本标准参考欧盟关于均质材料的定义对样品进行拆分，将样品拆分成终提交检测的单元，然后再进行检测。对于用机械手段难以拆分的非均质材料，按照一定的条件，如质量、体积等符合本标准规定的，可以直接提交检测，不需进一步拆分。本标准用举例和图示的方法对拆分的原则进行说明

实验室监测方法

       监测方法         来源         类别

原子吸收法GB7475-87水质

mcso-四(对磺基苯)卟啉光度法WS/T126-1999作业场所空气

氢化物发生-原子吸收法WS/T127-1999作业场所空气

原子吸收法GB/T15555.2-95固体废物浸出液

石墨炉原子吸收法GB/T17141-1997土壤

火焰原子吸收法GB/T17140-1997土壤

火焰原子吸收法GB/T15264-94空气质量

原子吸收法CJ/T101-99城市生活垃圾

原子吸收法《固体废弃物试验分析评价手册》中国环境监测总站等译固体废弃物

材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，CS995型红外碳硫分析仪，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。