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苏州英飞思科学仪器有限公司

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平顶山EDX 8800M材料分析光谱仪报价-英飞思科学仪器公

询盘留言|投诉|申领|删除 产品编号:591093409                    更新时间:2025-01-26
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便携式RoHS分析仪Compass-500能量色散荧光光谱EDXRF ROHS Analyzer?

欧盟成员国目前执行的RoHS指令和ELV指令,对电子/电器中铅、镉、、六价铬和某些化聚合物的浓度有严格的限制。

便携式X射线荧光光ROHS分析仪Compass500谱提供了一种快速、无损的方法来筛选这些受限元素。

XRF光谱ROHS分析测试仪Compass500的应用领域包括

RoHS及ELV指令应对

原材料

集成芯片

电路板

电源线

塑料

金属

焊料

多层膜厚分析

夹杂物和失效分析

RoHS检测方法可以参考IEC62321:2008电子电气产品中六种限用物质浓度的测定程序

首先用XRF光谱仪进行无损筛选,快速,非破坏性,成本低。但干扰因素多,误差较大。

XRF光谱RoHS分析仪以其可进行快速无损筛检的性能,受到多个行业的青睐,其中包括

儿童用品

玩具、首饰、小饰品、蜡笔、粉笔、塑料、餐盒及背包

服装和服饰:衣服、拉链、纽扣、贴花、莱茵假钻、镶边、袋子和钱夹。

材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话,多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄,直径1-5微米,也就是说照射到样品的区域会很小,所以不均匀样品检测会不准确,当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么?如果是一层高分子,一层无机物,EDX 8800M材料分析光谱仪报价,在一层高分子一层无机物,并且每层的厚度一定(比如层高分子都是10微米厚)。这样的可以在一定程度上看成是均匀的,但是用X荧光光谱仪测量还是有问题,因为X荧光透过不同物质有厚(某元素的X荧光透射不出来的厚度,原因是自吸收)的问题。

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