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苏州英飞思科学仪器有限公司

主营: 光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪

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苏州英飞思科学仪器有限公司
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公司官网: www.esi-xrf.cn
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苏州英飞思科学(多图)-天津CS995型红外碳硫分析仪

询盘留言|投诉|申领|删除 产品编号:587735382                    更新时间:2024-11-22
苏州英飞思科学仪器有限公司

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  • 主营业务:光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪
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  • 产品详情
  • 供货总量 : 不限
  • 价格说明 : 议定
  • 包装说明 : 不限
  • 物流说明 : 货运及物流
  • 交货说明 : 按订单

5 当拆分对象难以进一步拆分且重量≤10mg 时,不必拆分,作为非均质检测单元,直接提交检测。

6 当拆分对象难以进一步拆分且体积≤1.2mm3时,不必拆分,可以整体制样(如:0805类贴片类元件 2.0×1.2×0.5mm 的元件不必拆分)作为非均质检测单元,直接提交检测。

7 表面处理层应尽量与本体分离(如涂层);对于确实无法分离的(如镀层),可对表面处理层进行初筛(如使用 X 射线荧光光谱仪(XRF)等手段),筛选合格则不拆分;筛选不合格,CS995型红外碳硫分析仪,可使用非机械方法分离(如使用能溶解表面处理层而不能溶解本体材料的化溶液

学溶解提取)。

8 在满足检测结果有效性的前提下,对于经拆分后样品无法满足检测需求量时,可采取

适类,一同制样,直接提交检测

材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话,多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄,直径1-5微米,也就是说照射到样品的区域会很小,所以不均匀样品检测会不准确,当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么?如果是一层高分子,一层无机物,在一层高分子一层无机物,并且每层的厚度一定(比如层高分子都是10微米厚)。这样的可以在一定程度上看成是均匀的,但是用X荧光光谱仪测量还是有问题,因为X荧光透过不同物质有厚(某元素的X荧光透射不出来的厚度,原因是自吸收)的问题。

由于原子的能级很多,原子在被激发后,其外层电子可有不同的跃迁,但这些跃迁应遵循一定的规则(即“光谱选律”),因此对特定元素的原子可产生一系列不同波长的特征光谱线,这些谱线按一定的顺序排列,并保持一定的强度比例。光谱分析就是从识别这些元素的特征光谱来鉴别元素的存在(定性分析),而这些光谱线的强度又与试样中该元素的含量有关,因此又可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。

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