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⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，洛阳XRF镀层测厚仪，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

英飞思XRF镀层测厚仪优势

>微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，XRF镀层测厚仪哪里有，实现高精度测量。

>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

>高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。

膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如Cr/Fe， Ni/Fe， Ag/Cu，XRF镀层测厚仪供应，Zn/Fe等

多涂镀层应用：如Au/Ni/Cu， Ag/Pb/Zn，XRF镀层测厚仪价格， Ni/Cu/Fe等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe， ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用：如NiP/Fe， 同时分析镍磷含量和镀层厚度

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