淮安EDX-9000Bplus矿石分析仪服务为先 苏州英飞思

分辨率：1.2nm @15kv，2.2nm @1kv（非样品台偏压模式） 放大倍数：10X—1000000X，连续可调 加速电压：20v-30kv，连续可调 样品台移动范围：X=Y=120mm，Z=50mm 能谱探测器：SDD硅漂移电制冷探测器 能量分辨率：MnKa优于127eV 元素分析范围：Be4—Cf98。 [1] 主要功能编辑 播报采用ET二次电子探测器、In-Iens二次电子探测器、HDBSD背散射探测器和能谱探测器分别对信号进行检测、放大、成像，用于各种微观形貌及成分分析。


轻便矿石分析仪要求具有高的分辨率和信噪比、更好的强度准确性和波长准确性以及强的抗外界干扰性和优良的仪器稳定性，在仪器的软件上，要求能够进行导数、去卷积等复杂的数学计算，能够计算光谱间相似度、模式识别分析、支持多元校正分析和用户自建谱库并进行检索。轻便矿石X分析仪分析矿石中的元素及含量时。 国外仪器主要适用FP法（基本参数法）。苏州英飞思科学仪器有限公司


X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。X射线荧光是由物质中的组成元素产生的特征辐射。当高能电子束照射样品（靶材）时，入射高能电子被样品中的电子减速，这种带点粒子的负的加速度会产生宽带的连续X射线谱，简称为连续谱和韧致辐射。然后化学元素受到连续X射线谱的照射，内层电子被激发，驱逐一个内层电子形成空穴，原子处于不稳定状态。


X射线光谱现场分析技术是采用现场X射线光谱仪在采样现场对待测目标体中元素进行快速地定性和定量分析技术, 又称为现场X射线荧光矿石分析仪。 根据现场分析的应用场景与采样方法, X射线光谱现场分析可分为X射线光谱现场原位分析和X射线光谱现场取样分析。 现场原位分析是指将X射线光谱分析仪的探测窗直接置于岩(矿)石露头或土壤或其他待测物料的表面, 在现场原生条件下获取待测目标体中元素种类和元素含量的分析方法; 现场取样分析是指对待测目标体进行样品采集