能量色散X萤光与波长色散X萤光光谱分析技术特别研究与应用了里层三个电子轨道即K，L，M上的活动情况，其中K轨道为接近核子，每个电子轨道则对应某元素一个个特定的能量层（伊诺斯合金分析仪中国服务商）。在XRF分析法中，从光发射管里出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。

其显著优势主要有

?更快---全程无损分析，一到三分钟即可出结果（可实时刷新测试结果）

?更准---强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体元素间吸收增应，并同时考虑到不同基体对光谱强度变化的干扰，把测试准确度提高到了新的水平

?更稳---使用新的硅漂移检测器SDD可得到更好的测试稳定性和长期重复性，该款检测器可在相同样品激发条件下获得更高的光谱强度（计数率CPS）。

根据所得光谱图进行定性鉴定或定量分析。由于不同元素的原子结构不同，当被激发后发射光谱线的波长不尽相同，即每种元素都有其特征的波长，故根据这些元素的特征光谱就可以准确无误的鉴别元素的存在(定性分析)，而这些光谱线的强度与试样中该元素的含量有关，因此还可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)苏州英飞思科学仪器有限公司苏州英飞思科学仪器有限公司