| 企业等级： | 商盟会员 |
| 经营模式： | 生产加工 |
| 所在地区： | 江苏 苏州 |
| 联系卖家： | 张经理 先生 |
| 手机号码： | 18962189136 |
| 公司官网： | www.esi-xrf.cn |
| 公司地址： | 苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室 |
发布时间：2022-09-07 23:50:00 作者：英飞思科学
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。
便携式RoHS分析仪Compass-500能量色散荧光光谱EDXRF ROHS Analyzer?
欧盟成员国目前执行的RoHS指令和ELV指令，对电子/电器中铅、镉、、六价铬和某些化聚合物的浓度有严格的限制。
便携式X射线荧光光ROHS分析仪Compass500谱提供了一种快速、无损的方法来筛选这些受限元素。
XRF光谱ROHS分析测试仪Compass500的应用领域包括
RoHS及ELV指令应对
原材料
集成芯片
电路板
电源线
塑料
金属
焊料
多层膜厚分析
夹杂物和失效分析
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