香港分析仪价格服务介绍「多图」

作为中国电子电气产品制造企业非常熟悉的一项指令，其出台历程可谓是一波三折。由于修订过程中各方分歧较大，因此这项本来意欲在2009年就出台的修订案一拖再拖。特别是就是否扩大产品范围和受限物质的范围，欧盟内部包括、欧洲议会、理事会、业界、NGO等都进行了激烈的争论。扩大了产品范围：将所有的电子电气产品都涵盖在了指令规管的范围内（包括线缆和备用零部件），但是给予了新添入的第8类和第9类监视和控制仪器（包括工业监控仪器）一定的过渡期，此外，还针对这两类产品给出了20项的豁免（列于附件IV中）




光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收，由发射光谱被减弱的程度，进而求得样品中待测元素的含量。它符合郎珀-比尔定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I为透射光强度，I0为发射光强度，T为透射比，L为光通过原子化器光程由于L是不变值所以A=KC。物理原理任何元素的原子都是由原子核和绕核运动的电子组成的。

材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。

射线管发射具有高能量的粒子束照射样品, 当其能量大于样品原子中某一轨道电子的结合能时, 便可将该轨道的电子逐出, 形成空穴, 即时外层电子跃向空穴, 电子轨道层的能量差将以特征X射线荧光逸出原子, 其能量差与原子序数相对应, 以此能谱的峰位和净强度进行定性和定量分析。依据RoHS检测中元素的特点以及大量实际检测经验, 能量色散X射线荧光光谱仪因其激发源采用较大功率的Rh靶来产生特征X射线激发样品原子中K层L层谱线, 可降低背景